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项目描述
芯片失效通常发生在多层结构中下层结构的层间金属或有源区（Active Area，可在外加适当的偏置电压下工作）。因此，为更好地发掘芯片的失效原因，就需要对芯片进行去层处理，使得失效区域结构具有可观察性和可测试性。
常见的芯片去层方式有：离子蚀刻、化学药物蚀刻和机械研磨。
失效分析去层图片
| 产品名称 | 检测项目 | 检测标准 |
| 电子元器件 | / | / |
1、交期快、成功率高，去层方法多样，有整体去层和逐层去层。
兔拉检测拥有专业的开发团队，检测结果准确，工期短，高效完成客户的需求。
兔拉检测（TOULAAI TEST）是国内独立第三方元器件检验检测服务机构，专门提供失效分析、元器件真伪检测等专业服务，拥有庞大的专业检测团队，配置了专业检测仪器70多台，实验室已获得CNAS、、CMA认证、ISO9001认可等。
未来，兔拉检测更会不断升级，以成为广大电子贸易商的第二检测部。永远把“品质的把控源自对真品的坚守”的理念贯彻到底，帮助您拦截伪冒元器件，减少损失！
