激光束电阻异常侦测

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资质: CMA CNAS

检测项: 失效分析

分类:电子电器 周期:3-7天 服务地点:全国

深圳市兔拉检测科技有限公司

中级
民营企业 50-100人 独立实验室2个

服务详情

服务背景
项目描述
激光束电阻异常侦测(Optical Beam Induced Resistance Change,以下简称OBIRCH),以镭射光在芯片表面(正面或背面) 进行扫描,在芯片功能测试期间,OBIRCH 利用镭射扫描芯片内部连接位置,并产生温度梯度,藉此产生阻值变化,并经由阻值变化的比对,定位出芯片Hot Spot(亮点、热点)缺陷位置


检测内容
应用范围
金属线/Poly/Well短路 (Metal Short/Metal bridge);
闸极氧化层漏电(Gate Oxide Pin Hole);
金属导通孔/接触孔阻值异常;
任何有材质或厚度不一样的Short/Bridge/Leakage/High Resistance 等芯片失效情况。
检测图片
经由OBIRCH扫描芯片正面、背面,找到异常亮点、热点(Hot Spot)。
serviceUrl


检测标准
产品名称 检测项目 检测标准
电子元器件

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我们的优势


兔拉检测拥有专业的开发团队,检测结果准确,工期短,高效完成客户的需求。


兔拉检测(TOULAAI TEST)是国内独立第三方元器件检验检测服务机构,专门提供失效分析、元器件真伪检测等专业服务,拥有庞大的专业检测团队,配置了专业检测仪器70多台,实验室已获得CNAS、、CMA认证、ISO9001认可等。


未来,兔拉检测更会不断升级,以成为广大电子贸易商的第二检测部。永远把“品质的把控源自对真品的坚守”的理念贯彻到底,帮助您拦截伪冒元器件,减少损失!

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