电子电器检测_电子元器件老化试验

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资质: CMA CNAS

检测项: 电性能 安全性能 老化试验 外观 RoHS 高低温试验 振动试验 有毒有害物质检测 寿命测试 尺寸 DPA分析 结构 禁用物质检测 耐腐蚀试验 X光检测

分类:电子电器 周期:3-7天 服务地点:全国

博检(淄博)检测技术有限公司

高级
民营企业 100-200人 独立实验室:未知

服务详情

检测范围具体范围
元件检测:芯片、半导体、电阻器、连接器、插座、连接电缆、印刷电路板(PCB)等
器件检测:继电器、二极管、三极管、电容器、连接器、电位器、保险元器件、传感器、电感器、电声器件、电声配件、频率元件、开关元件、光电与显示、磁性元器件、集成电路、电子五金件、显示器件
其他材料检测:印制电路板、集成电路、各类电路、压电、晶体、石英、陶瓷磁性材料、印刷电路用基材基板、电子功能工艺专用材料、电子胶(带)制品、电子化学材料及部品等


检测项目具体项目
常规检测:外观、尺寸、结构、电性能、安全性能等
环保检测:有毒有害物质检测、禁用物质检测、RoHS检测等
可靠性检测:老化试验、寿命测试、高低温试验、耐腐蚀试验、振动试验等
特殊检测:DPA分析、X光检测等


检测标准
GB/T 16516-1996石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第2部分:分规范 能力批准
GB/T 15176-1994插入式电子元器件用插座及其附件总规范
GB/T 13947-1992电子元器件塑料封装设备通用技术条件
GB/T 5594.1-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法
GB/T 28859-2012电子元器件用环氧粉末包封料
GB/T 39771.1-2021 半导体发光二极管光辐射安全 第1部分:要求与等级分类方法
GB/T 39771.2-2021 半导体发光二极管光辐射安全 第2部分:测试方法
GB/T 38345-2019宇航用半导体集成电路通用设计要求
GB/T 15879.4-2019半导体器件的机械标准化 第4部分:半导体器件封装外形的分类和编码体系


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