胜科纳米（苏州）股份有限公司2012年成立于苏州工业园区，主要从事半导体第三方检测分析服务，致力于打造专业高效的一站式检测分析平台，为半导体产业链客户提供失效分析、材料分析、可靠性分析等检测分析服务。公司通过专业精准的检测分析服务，判断客户产品设计或工艺中的缺陷，助力客户提升产品良率与性能，成为半导体领域研发制造和品质监控的关键技术支撑平台，承担辅助客户研发的重要角色。凭借多元化的检测分析项目与专业精准的诊断能力，公司被形象地喻为“芯片全科医院”。 

开封试验、外部目检、电性能试验、X 射线检测、超声检测、内部光学观测、探针测试、切片试验、剖面分析、氧化层缺陷分析、扫描电子显微镜分析、微束分析、玻璃钝化层完整性分析、俄歇电子能谱分析、二氧化硅膜厚测量、回流焊模拟试验、染色试验、预处理试验、高温储存寿命试验、低温储存寿命试验、高温工作寿命试验、偏压高加速应力试验、无偏压高加速 应力试验、高压蒸煮试验、温度循环试验、温度冲击试验、温湿度偏压寿命试验、功率和温度循环、静电放电测试、带电器件模型 静电放电测试、引线剪切试验、引线拉力试验、物理尺寸测量、锡球剪切试验

我们的优势：

• 高端芯片失效分析线

  High-end chip failure analysis line

•  专家级半导体芯片分析测试团队

  Expert Semiconductor Chip Analysis and Testing Team

• 整体分析测试系统解决方案

  Comprehensive Analytical and Testing Solution

• 7D*24H不间断专业高效运作

  7 Days a Week, 24 Hours a Day, Continuous Professional and Efficient Operation