领域分类:失效分析-设计审查-其他
检测项目:超声扫描,来料检测
超声波显微镜,英文名Scanning Acoustic Tomography,简称SAT。超声波显微镜分析是无损的检测方式,其通过图像及声波对比度判别样品内部分层、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位等。同时可以检测集成电路表面丝印打字重影、表面打磨、重新喷涂的真伪检测。
检测方法:
平面扫描,穿透扫描,以及多层面扫描的反射光hi来检测样品内部的分层,气泡等异常。
适用于:
失效分析禾可靠性分析
超声波扫描图片:
案例一:
案例二:
超声波扫描设备图片:
产品名称 | 检测标准 | 检测项目 |
电子元器件 | 依客户需求 | 超声波扫描测试 |
兔拉检测拥有专业的开发团队,检测结果准确,工期短,高效完成客户的需求。
实验室已配置低频15MHz、30MHz、50MHz、75MHz、到高频100MHz、230MHz等全系探头,可满足集成电路SOP、DIP、PLCC、TO、QFP、BGA 、 SOT、QFN、TQFP、DFN、Flip Chip、WLCSP、FCBGA等不同封装的集成电路及PCB板、IGBT、电容的检测需求。
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