2026-07-24 上海微谱检测科技集团股份有限公司已抢此单
芯片检测，找一家权威的检测机构
样品所在地 未知
期望检测地 深圳市
126
要求检测是否是翻新料，如果不是翻新料，晶圆是哪家的，属于什么级别的晶圆。
174
GB/T 3655-2022爱泼斯坦方圈测试
期望检测地 未知
153
需要测试交变电场下的端子处发热情况，需求交变电流/电场
156
30-40%含量的废磷酸测铝含量
期望检测地 韶关市
203
电子级纯水里面的金属杂质，依据的检测标准是ASTMD5673
期望检测地 徐州市
231
电池检测，检测标准 12133
期望检测地 武汉市
149
电子级纯水中金属离子杂质检测的 CNAS 实验室间比对；检测标准：ASTM D5673-2016
183
进行霍尔测试的CMA认证，检测样品为氧化镓薄膜，检测项目包括霍尔效应、偏率、电阻率和载流子浓度，测试标准符合国家标准GB/T 4326-2025。
246
检测单晶硅的金属含量，具体方法是通过 ICP-MS
期望检测地 红河哈尼族彝族自治州
250
半导体激光器输出功率、光谱频率、麦环检测
期望检测地 长春市
344
PCB板金相切片分析
期望检测地 广东省
317
样品是4英寸晶圆和TO46的封装产品，检测项目如图片所示，测试标准是 GB/T 15651 系列（光电子器件通用规范）， SJ/T 2354-2015（暗电流、响应度、带宽、击穿电压等），通信类： GB/T 24366-2024（通信用光电探测器组件）。
期望检测地 苏州市
检测 DDR 芯片的金源型号
491
检测薄膜太阳电池的缺陷密度和甲漏子浓度
期望检测地 湖南省
372
检测锂电池非危险品，UN38.3报告
期望检测地 杭州市
391
千级和百级洁净室洁净度和温湿度检测
期望检测地 上海市
335
半导体分立器件CNAS能力验证和测量审核
513
深圳地区需要开盖检测芯片
621
预约检测：RBS测试 NRA测试 样品表面分析 半导体检测 薄膜厚度
期望检测地 济南市
531
