芯片扫描量热仪及其与X射线散射联用在高分子材料研究中的应用--仪器信息网3i讲堂

芯片扫描量热仪及其与X射线散射联用在高分子材料研究中的应用

芯片扫描量热仪（FSC）为研究高分子材料在宽温区、快速升降温条件下的热学性质提供了独特的测试方案。将其与X射线散射及衍射联用可同时获得微观结构（晶型、片晶长周期）演化信息，为调控制品性能提供基础信息。本报告聚焦聚丙烯等聚烯烃材料的结晶行为研究展示FSC联用X射线散射的独特功能。