GB/T 47076-2026 表面化学分析 X射线光电子能谱 导电碳基材料XPS结合能的测量
普遍采用的XPS测试方法得到的元素结合能数据通常使用外来污染碳校正后使用。而导电碳基材料中sp2杂化的碳与物体表面吸附的sp3杂化形态的污染碳存在显著差异。用外来污染碳校正导电碳基材料元素结合能容易引起理解和使用的混乱。本文件利用碳基材料具有较好的导电特性，通过改进制样方法，提出了一种无需荷电校正直接测量导电碳基材料元素结合能的方法。
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2026-09-11
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