SPECTRO XEPOS ED‑XRF 法快速测定矿石中稀土元素-德国斯派克分析仪器公司-仪器信息网3i讲堂

SPECTRO XEPOS ED‑XRF 法快速测定矿石中稀土元素

稀土元素是现代高技术产业的关键材料，快速准确分析对稀土资源利用至关重要。本报告采用 SPECTRO XEPOS ED‑XRF 光谱仪分析稀土矿石，仪器采用 60 kV 自适应偏振激发与高分辨率 SDD 检测，样品仅需简单压片。方法检测限低至 2 mg/kg，重复测定相对标准偏差≤4.70%，结果与标准值吻合。该方法简便快速、稳定可靠，适用于稀土矿石的批量快速检测。