X射线对分布函数分析及其在材料中的应用-布鲁克衍射荧光事业部(Bruker AXS)-仪器信息网3i讲堂

X射线对分布函数分析及其在材料中的应用

本报告介绍了X 射线衍射结合对分布函数（PDF）技术，通过分析 X 射线散射数据获取原子间距离和分布信息，突破传统衍射对长程有序结构的依赖，可探测短程、局域结构及结构缺陷。在材料科学领域，用于研究纳米材料、非晶态材料和复杂晶体结构；在化学和生物学中，助力解析分子构象和蛋白质局部结构。该技术为深入理解物质微观结构与性能关系提供关键支撑，推动多学科材料研发与结构表征发展。