基于Avantage的XPS自动化分析流程和XPS数据分析方法-赛默飞世尔科技电子显微镜-仪器信息网3i讲堂

基于Avantage的XPS自动化分析流程和XPS数据分析方法

XPS 以元素化学态高敏感性和表面探测特性，成为解析材料表界面信息的核心技术。与其他表征手段联用后，可提供更全面深入的样品分析，广泛应用于新材料、半导体、能源催化等前沿领域。在仪器智能化浪潮下，赛默飞推出针对性解决方案。本报告重点介绍两大应用：一是全自动化无人值守采集分析，大幅提升检测效率与数据一致性；二是客户自定义模板分析，支持灵活配置参数，满足个性化检测需求。同时，将继续介绍基于 Avantage 软件的几种XPS数据分析方法，助力用户挖掘 XPS 数据价值。