利用原子力显微镜在力谱测量方法介绍及其在纳米机械性质表征的应用-布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)-仪器信息网3i讲堂

利用原子力显微镜在力谱测量方法介绍及其在纳米机械性质表征的应用

原子力显微镜除了对样品进行形貌的表征以外，还可以利用其力学测量模式用于研究探针与样品之间的相互作用。这里我们主要介绍利用探针进行力学测量时的主要参数、相关模型以及对样品表面纳米机械性质表征的应用等。报告人：仇登利博士，布鲁克纳米表面仪器部应用科学家。2004年毕业于吉林大学化学学院高分子化学与物理专业，师从张希院士。博士期间主要利用原子力显微镜(AFM)研究有机界面聚集体的聚集形态。毕业后，留学加拿大和美国多年，继续利用AFM研究抗体与细胞表面抗原的相互作用等。于2009年加入维易科(VEECO)公司（2010年10月后并入布鲁克公司）主要从事AFM相关的应用技术支持;具有十多年的AFM技术经验。