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Hydranal™新一代醛酮试剂登场,半导体用化学品水分检测有了新武器

半导体制作过程中会大量使用化学品,例如:酸碱,有机溶剂,光刻胶,金属有机前躯体等。有些化学品对水分要求非常严格,通常控制在ppm级别。水分超标容易引发晶圆水痕,光刻图形畸变,产品良率下降。金属有机前驱体遇水会分解,直接造成薄膜失效。 迄今为止,大部分商用卡尔费休试剂都含有某种类型的醇,这会限制,甚至阻止对醇敏感样品的水分测试,索致泰全新推出的Hydranal TM NEXTGEN FA新一代醛酮试剂则完全解决了这个问题。这是全球少数商用的无醇,无咪唑,无氯仿的卡尔费休醛酮试剂。该试剂用乙腈完全替代了醇溶剂,即使在反应性很强的样品中,这种新试剂也能获得准确的卡尔费休滴定结果。新配方不含 CMR(致癌、致突变和生殖毒性)物质或卤代烃,将成为滴定挑战性样品的更安全替代品。

0 2026-11-02
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