布鲁克EDS、EBSD及SEM-XRF在材料研究中的应用
EDS、EBSD及XRF是搭配在扫描电子显微镜上进行成分与晶体学分析的重要仪器。布鲁克革命性的平插式能谱仪FlatQUAD拥有SEM中X射线探测的最大效率，对分析纳米材料和束流敏感材料有着无可比拟的优势。独家的同轴TKD技术有效空间分辨率优于2nm，是纳米尺度晶体学分析最优的解决方案。搭配在SEM上的Micro-XRF可使电镜显微镜元素分析的检测能力提升至10 ppm级别。
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2021-12-15
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