[报告]SPECTRO XEPOS ED‑XRF 法快速测定矿石中稀土元素
报告时间: 2026-08-04 01:30
第八届地质及矿物分析新技术与应用网络研讨会
2026年08月04日 01:00
曹嘉洌
德国斯派克分析仪器公司
2009年毕业于华东理工大学，分析化学专业硕士研究生。毕业后多年从事元素分析的理论和应用研究，对XRF、Spark-OES，ICP等仪器的原理、操作及在各个行业的应用有丰富的经验。现就职于德国斯派克分析仪器有限公司，应用实验室负责人，主要负责中国区产品的技术支持及应用方法的开发，在XRF应用方面有超过十年丰富的理论和实践经验，多年的从业经验可为众多科研及工业用户提供应用支持和整体解决方案。
稀土元素是现代高技术产业的关键材料，快速准确分析对稀土资源利用至关重要。本报告采用 SPECTRO XEPOS ED‑XRF 光谱仪分析稀土矿石，仪器采用 60 kV 自适应偏振激发与高分辨率 SDD 检测，样品仅需简单压片。方法检测限低至 2 mg/kg，重复测定相对标准偏差≤4.70%，结果与标准值吻合。该方法简便快速、稳定可靠，适用于稀土矿石的批量快速检测。
德国斯派克分析仪器公司
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