[报告]布鲁克半导体领域先进的高分辨分析表征解决方案
报告时间: 2026-05-14 08:30
第五届半导体先进封装检测及失效分析技术进展网络研讨会
2026年05月14日 01:00
陈剑峰
布鲁克（北京）科技有限公司
2003年毕业于中科院长春应化所，主要研究方向是高分辨电子显微镜在高分子结晶中的应用，毕业后加入FEI，负责SEM/SDB的应用、培训以及市场等推广工作。2011年加入安捷伦公司负责SEM的市场和应用工作，2018年在赛默飞负责SEM的应用工作。2021年加入布鲁克，负责EDS、EBSD、 Micro-XRF等产品的技术支持工作，对电子显微镜的相关应用具有多年的实操经验。
布鲁克新一代直接电子探测EBSD，平插式能谱探测器均可以在低电压，小束流下进行工作，从而得到比以往更好的空间分辨率，同时结合布鲁克全系列的XRD/XRM等产品，可以为科研人员提供更多更准确的细节。
布鲁克电子显微纳米分析仪器部
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