[报告]日立扫描电镜半导体前后道应用及纳米探针解决方案
报告时间: 2026-05-14 01:30
第五届半导体先进封装检测及失效分析技术进展网络研讨会
2026年05月14日 01:00
周鸥
日立科学仪器（北京）有限公司
周鸥先生毕业于上海交通大学，硕士阶段即从事透射电镜和半导体材料方面研究，毕业后加入上海宏力半导体，从事半导体失效分析工作，积累了多种电镜设备在半导体领域的应用经验，之后在欧美仪器公司工作多年，进一步拓展了对多个行业电镜应用的理解。现为日立科学仪器（北京）有限公司市场部副部长，主要负责电镜系列产品在半导体行业的推广及技术支持工作。
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