[报告]上海微纳原位4D-STEM解决方案介绍
报告时间: 2026-06-23 01:30
第十二届电子显微学网络会议（iCEM 2026）
2026年06月23日 01:00
赵颉
上海微纳国际贸易有限公司
理学博士，毕业于北京工业大学固体微结构与性能研究所，主要研究方向是金属材料塑性变形中的电子显微结构及其变形机理。在电子显微学领域具有超过十年的应用经验，了解多种电子显微学分析方法及制样技术。目前任职于上海微纳国际贸易有限公司，负责电镜探测器及原位分析设备的推广与销售。
传统的透射电子显微镜只能局限在真空条件下对样品进行结构已经形貌的观察。针对温度、气氛、液体等环境下样品的动态变化过程难以进行直接的观察。使用原位透射电镜样品杆可以加入不同外场环境对样品进行原位动态的观察，获取最直接的动态结果。同时原位技术结合透射电镜中的4D-STEM技术可以为纳米材料、热电材料、能源材料以及催化反应等领域的研究提供取向、应变、电场分布等多维度的信息，具有十分强大的优势。
上海微纳国际贸易有限公司
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