[报告]X射线对分布函数分析及其在材料中的应用
报告时间: 2025-07-08 02:00
第六届X射线衍射技术及应用进展网络研讨会
2025年07月08日 01:00
王通
布鲁克（北京）科技有限公司
王通博士，2011毕业于中国科学院物理研究所凝聚态物理专业，博士学位。主要从事材料性能与晶体结构方面的工作。毕业后加入布鲁克（北京）科技有限公司，主要负责中国区XRD的售前技术支持和售后应用服务。包括多晶衍射仪和高分辨衍射仪的硬件和软件的应用支持。2019年开始，负责布鲁克华南和西南地区的XRD销售工作。
本报告介绍了X 射线衍射结合对分布函数（PDF）技术，通过分析 X 射线散射数据获取原子间距离和分布信息，突破传统衍射对长程有序结构的依赖，可探测短程、局域结构及结构缺陷。在材料科学领域，用于研究纳米材料、非晶态材料和复杂晶体结构；在化学和生物学中，助力解析分子构象和蛋白质局部结构。该技术为深入理解物质微观结构与性能关系提供关键支撑，推动多学科材料研发与结构表征发展。
布鲁克衍射荧光事业部(Bruker AXS)
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