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[报告]基于Avantage的XPS自动化分析流程和XPS数据分析方法

报告时间: 2025-06-04 02:40

第十二届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会网络研讨会

2025年06月04日 01:00

葛青亲 赛默飞世尔科技(中国)有限公司

博士毕业于复旦大学物理系凝聚态物理专业。博士期间从事复杂量子材料的光电子能谱研究。使用基于同步辐射与激光的电子能谱系统,研究对象涵盖高温超导,铁基超导,Mott绝缘体等关联体系,及人工异质界面和有机功能分子材料等低维体系的电子结构研究。拥有丰富的电子能谱系统操作、搭建和光电子能谱数据处理经验,博士期间多次赴美国、日本、德国、意大利等同步辐射中心进行交流合作,在Nature Physics、Physical Review X、Science等国际一流杂志发表论文10余篇。毕业后加入赛默飞世尔科技(中国)有限公司,现担任应用经理一职,负责XPS、EDS、EM等技术的行业性应用开发。

XPS 以元素化学态高敏感性和表面探测特性,成为解析材料表界面信息的核心技术。与其他表征手段联用后,可提供更全面深入的样品分析,广泛应用于新材料、半导体、能源催化等前沿领域。 在仪器智能化浪潮下,赛默飞推出针对性解决方案。本报告重点介绍两大应用:一是全自动化无人值守采集分析,大幅提升检测效率与数据一致性;二是客户自定义模板分析,支持灵活配置参数,满足个性化检测需求。同时,将继续介绍基于 Avantage 软件的几种XPS数据分析方法,助力用户挖掘 XPS 数据价值。

赛默飞世尔科技电子显微镜

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