虽然EBSD技术在过去的二十年里已经得到了很好的发展，但是由于探测器硬件的限制，使得常规的EBSD分析还是只能在相对较高的加速电压比如20kV，和较大的电子束流下进行花样的采集，同时由于花样要通过磷屏转到CCD或是CMOS单元，产生信号的损失和花样的变形，从而使得探测器的灵敏度，采集速度和最终的标定率都受到很大的限制，最近的直接电子探测技术已经开始用于EBSD并由不同厂家开始推出相关的产品，从而使EBSD的技术得以在更低的加速电压，更小的电子束流下工作，实现了更高的灵敏度，更快的采集速度，更好的空间分辨率，对EBSD的应用场景也带来了一些更积极的变化，本次报告主要以布鲁克公司新推出的高灵敏度超快直接电子探测的eWarp产品的一些最新检测结果为核心进行一些相关的介绍和讨论。