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[报告]表面分析技术前沿进展及多领域联合应用探索

报告时间: 2024-08-05 07:50

第十一届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会 网络研讨会

2024年08月05日 01:00

冯林 爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司

冯林博士,爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司应用科学家。于2020年在中国科学技术大学国家同步辐射实验室获得博士学位,研究方向为利用X射线光电子能谱(XPS)和扫描隧道显微镜(STM)等表面分析技术探索低维碳纳米材料表面生长机制。于2022年加入爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司,在PHI南京表面分析实验室负责表面分析测试,以及XPS分析技术应用培训,在XPS、UPS(紫外光电子能谱)、AES(俄歇电子能谱)、TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱)等多种表面分析技术的应用方面拥有丰富的经验。

表面分析技术已被广泛应用于诸多科学研究以及高科技产业中。本报告将从空间分辨、深度分辨和原位表征多个维度出发,介绍表面分析技术(XPS、AES和TOF-SIMS等)的最新进展以及在多学科领域中的综合应用,包括研究材料表面微区特征组分和化学态的空间分布;研究膜层组分的深度分布;对材料进行原位测试芯能级、价带和导带电子结构等。

爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司

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