[报告]颗粒表征关键技术新进展
报告时间: 2024-07-24 01:00
第五届颗粒研究应用与检测分析网络会议
2024年07月23日 01:20
李倩
HORIBA（中国）
李倩，本科及硕士毕业于西南大学，硕士期间主要从事贵金属纳米颗粒的表面活性研究。现任HORIBA粒度产品应用工程师。主要负责粒度仪的方法开发以及技术支持，熟练掌握仪器特性及使用维护，为不同应用领域的粒径测试用户开发和优化粒径测试方法、提供解决方案，在半导体、能源、材料、环境、生命科学等多个领域积累了丰富的经验。
颗粒表征对产品的研究开发和质量控制发挥着越来越重要的作用，如何根据需求和应用场景选择最合适的测量工具显得尤为重要。为了更好地帮助客户用颗粒表征结果指导自己的研究或生产，本次报告为大家介绍 HORIBA 颗粒表征技术以及相关产品的最新进展。
HORIBA（中国）
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