[报告]TESCAN All in One 在材料领域综合解决方案
报告时间: 2020-06-18 06:00
第六届电子显微学网络会议（iCEM 2020）
2020年06月16日 01:00
李景
泰思肯（中国）有限公司
李景，毕业于北京科技大学材料科学与工程专业， TESCAN高级应用工程师，长期专注于扫描电镜在材料领域的研究，具有丰富的扫描电镜以及相关联用仪器（TOF-SIMS、Raman等）的操作经验。
随着科研的深入及学科的交叉，常规扫描电镜系统无法满足科研工作者日益提升的分析需求。借助其它分析系统所得的数据，和电镜系统的数据往往非同时同位。TESCAN提出了All-In-One的综合解决方案，在常规的SEM系统上，增加Raman Spectrum Image以及TOF-SIMS和AFM等多种表征系统，可以极大的提升扫描电镜系统的原位综合分析能力，做到所见即所得。
泰思肯（中国）有限公司
更多TA参与会议报告>
我的邀请卡
查看回放
