[报告]光诱导力显微镜（PiFM）的使用案例介绍
报告时间: 2020-05-08 02:50
第四届“表面分析技术应用论坛——表面分析技术在新材料研究中的应用”暨“表面化学分析国家标准宣贯会”
2020年05月08日 01:00
谢佳哲
Park Systems Corp
谢佳哲，从事原子力显微镜行业工作超过20年，曾参与多项原子力显微镜材料机械性质、电性表徵的客户端应用导入，及光学频谱与AFM技术联用的早期客户共同开发计划。目前负责Park Systems大中华区原子力显微镜在学术界和产业界应用支持推广。
光诱导力显微镜(Photo Induced Force Microscope )为基于高解析原子力显微镜上进行AFM-红外IR光谱联用的定量可视化，从而实现分子水平上探测和解析物质的红外光谱特征。可以有效进行并实现纳米尺度材料表面物性和化学分析，并广泛应用于各种有机和无机材料，为最新的材料，化学研究工作提供重要的研究和分析手段
Park帕克原子力显微镜
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