颗粒表征样品准备与测量数据统计的一般知识

1980年代前往美国就学，受教于20世纪物理化学大师彼得·德拜的关门弟子、光散射巨擘朱鹏年和国际荧光物理化学权威魏尼克的门下，获博士及MBA学位。曾在多家跨国企业内任研发与管理等职位，包括美国贝克曼库尔特仪器公司颗粒部全球技术总监，英国马尔文仪器公司亚太区技术总监，美国麦克仪器公司中国区总经理，资深首席科学家。也曾任中国数所大学的兼职教授。

· 国际标准化组织资深专家与召集人，执笔与主持多个颗粒表征国际标准

· 美国标准测试材料学会与美国化学学会的获奖者

· 中国颗粒学会高级理事，颗粒测试专业委员会常务理事

· 中国3个全国专业标准化技术委员会的委员

· 与中国颗粒学会共同主持设立了《麦克仪器-中国颗粒学报最佳论文奖》

浸淫颗粒表征近半个世纪，除去70多篇专业学术论文、SCI援引近5000、数个美国专利之外，著有400页业内经典英文专著《Particle Characterization： Light Scattering Methods》（2001年出版），以及即将由化学工业出版社出版的《颗粒表征的光学技术及应用》。