失效分析及可靠性试验中国电子科技集团公司第四十六研究所

失效分析及可靠性试验

资质: CMA CNAS

检测项: 失效分析可靠性测试

分类:失效分析周期:3-7天服务地点:全国

中国电子科技集团公司第四十六研究所

服务详情

服务背景

在电子功能及辅助材料领域为客户定制有针对性的失效分析方案，通过综合多项测试技术查明失效原因，帮助客户从根本上提高产品的可靠性、稳定性、安全性和环境适应性，帮助产品缩短研发周期和生产周期。

检测内容

按测试类型/产品/材料分类

1、电子信息产品及部件、电子元器件、包装材料中铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、

六价铬(Cr6+)、钡(Ba)、砷(As)、硒(Se)等有毒有害重金属检测

2、电子信息产品、有机材料中多溴联苯(PBB)、多溴联苯醚(PBDE)、高度关注物质(SVHC)等的检测

检测标准

产品名称	检测项目	检测标准
半导体	失效分析及可靠性试验	111

我们的优势

1. 资质齐全

实验室通过CNAS和CMA认可、测试能力全面；资质范围内标准覆盖GB、SJ等多个领域的测试标准。

2. 资深技术团队

拥有资深的技术团队，在电子信息产品、包装材料中有毒有害物质检测领域拥有较强的技术实力，可为客户提供更准确、可靠的服务支持。