生产前期检验

对半成品、原材料、配件和生产线进行检查，有助于您对产品生产初期阶段有基本的质量了解，并有助于您了解您的供应商是否清楚地理解产品要求并将严格按这些要求生产，及时避免产品生产风险避免出现批量性的不良品，并及时解决发现的质量问题，不影响大批量生产。

生产中期检验

随着大货大批量的开始生产，各种质量问题可能会出现，此阶段验货有助于您及时了解对工厂所生产的产品是否同确认样或要求一致，确保您所要求的生产进度同出货期不受影响，从而降低工厂延迟交货的风险。

出货前检验

适用于产品100%完成，至少80%产品包装好时，抽样方案参照标准ISO2859/ANSI/ASQ Z1.4/BS6001，同时参照为您定制的产品检验规范和您的特殊要求进行检验，有助于您在出货前对整批次的产品质量有全面的了解。

一、外观检验

1. 数显卡尺表面不应有影响外观和使用性能的裂痕、划伤、碰伤、锈蚀、毛刺等缺陷。

2. 数显卡尺表面的镀、涂层不应有脱落和影响外观的色泽不均等缺陷。

3. 数显卡尺标尺标记不应有目力可见的断线、粗细不均及影响读数的其他缺陷。

4. 数显卡尺指示装置的表蒙、显示屏应透明、清洁，无划痕、气泡等影响读数的缺陷。

5.数显卡尺的尺框、微动装置沿尺身的移动应平稳、无卡滞和松动现象，用制动螺钉能准确、可靠地紧固在尺身上。

二、技术要求及检验方法

1. 测量面硬度在维氏硬度计（或洛氏硬度计）上检验。检查部位为测量面或离测量面２ｍｍ以内的侧面且应沿测量面长度方向均匀分布的３点，３点测得值的算术平均值作为测量结果。 数显卡尺一般采用碳钢、工具钢或不锈钢制造，测量面的硬度不应低于下表的规定。

2. 测量面的表面粗糙度用表面粗糙度比较样块目测比较或用表面粗糙度检查仪检验。数显卡尺测量面的表面粗糙度Ra值不应大于下表的规定。

3. 尺两外测量面的平面度不应大于下表的规定；两外测量面手感接触时的合并间隙（无论尺框紧固与否），在宽量面处不应透光，在刀口窄量面处不应透白光。

4. 最大允许误差：

-外测量的最大允许误差：卡尺外测量的最大允许误差应符合下表的规定。

-刀口内测量爪的最大允许误差：

两刀口内测量爪相对平面间的间隙检验，是将卡尺外测量爪垂直向下，移动尺框使两内测量爪间的重叠区域至尽量大，用０．１２ｍｍ的塞尺进行检验。

带有刀口内测量爪的卡尺，两刀口内测量爪相对平面间的间隙不应大于０．１２ｍｍ。

-深度、台阶测量的最大允许误差：带有深度和（或）台阶测量的卡尺，其深度、台阶测量２０ｍｍ时的最大允许误差不应超过下表的规定。

-重复性：数显卡尺的重复性不应大于0.010

带表、数显卡尺应重复５次移动尺框使两外测量面手感接触，其５次测得值间的最大差异即为重复性。

三、性能要求

数字显示情况、响应速度及功能键的作用三项性能宜同时检验。试验并观察功能键的作用是否正常、灵活、可靠；用手动速度模拟，移动尺框后观察数字显示是否正常。工作电流用万用表或专用芯片检测仪进行检测。数字漂移采用试验方法进行检验，拉动尺框并使其停止在任意位置上，紧固尺框，观察显示数值在１ｈ内的变化

1. 数字显示应清晰、完整、无闪跳现象；响应速度不应小于１ｍ／ｓ。

2. 功能键应灵活、可靠，标注符号或图文应清晰且含义准确。

3. 数字漂移不应大于１个分辨力值，工作电流不宜大于４０μＡ。

4. 电子数显器应能在环境温度０°C～４０°C、相对湿度不大于８０％的条件下，进行正常工作。

四、通讯接口

1. 制造商应能够提供数显卡尺与其他设备之间的通讯电缆和通讯软件。

2. 通讯电缆应能将数显卡尺的输出数据转换为ＲＳ２３２、ＵＳＢ或其他通用的标准输出接口形式。

五、检验条件

数显卡尺检验时，室内温度应为２０°C±５°C，相对湿度不应大于８０％。

六、标志和包装

1.卡尺上至少应标有：

ａ）制造厂厂名或注册商标；

ｂ）分度值／分辨力；

ｃ）产品序号；

ｄ）用不锈钢制造的卡尺，应标有识别标志。

２.卡尺的包装盒上至少应标有：

ａ）制造厂厂名或注册商标；

ｂ）产品名称；

ｃ）分度值／分辨力及测量范围。

３.卡尺在包装前应经防锈处理，并妥善包装。不得因包装不善而在运输过程中损坏产品。

４.卡尺经检验符合本标准要求的，应附有产品合格证。产品合格证上应标有本标准的标准号、产品序号和出厂日期。

EC inspection拥有丰富的QC资源，为客户提供专业的产品检验服务。