JEMARM 20OF球差电镜是一款原子级分析型透射电镜，拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率(78pm)，无论是20OkV的高加速电压还是在30kv的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术(e-ABF法)可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度）图像。ARM20OF在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时，能量分辨率提高到了0.3eV，极大增强了原子级观察和原子级分析能力。

应用范围

形貌分析：通过形貌分析可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息，同时还可通过明场像、暗场像对样品的质厚衬度像、衍衬像进行进—步的表征。

结构分析：观察研究材料结构并进行原子尺度的微分析，如:原子像，选区电子衍射，会聚束电子衍射等。

成分分析：可在原子尺度对样品进行成分分析，可选择性的对样品进行能谱点测、能谱线扫、能谱面分布分析，获得样品中的元素在一个点、—条线、—个面上的分布情况。

送样要求

粉末样品:样品量≥2mg(不接收强磁性样品)。

液体样品:样品量≥0.5ml(不接收强磁性样品)。

块体样品:样品尺寸≥3mm,若小于该尺寸请联系在线客服具体确认。

测试说明

1.粉末和液体样品要保证样品中没有过多的有机物和表面活性剂。
2.样品上球差电镜前最好用普通场发射电镜筛选下。

3.原子相测试主要包括HAADF暗场像拍摄，特别是原子相拍摄。另外可以附加一张非原子级的EDSmapping，如果需要该项，需要提前备注，并不默认提供。