已认证
SEM&EDS
资质：
适用范围：
领域分类：电子电器_电子产品_其他
检测项目：失效分析，可靠性试验，PCB失效分析，电子元件失效分析，元器件失效分析，PCBA失效分析，SEM-EDX
详情介绍：
服务背景
检测内容
检测标准
我的优势
钨灯丝通电加热，释放的电子经过聚焦、偏转轰击到样品表面，样品表面深度50-500?内被激发出大量的二次电子(SE)，携带样品形貌信息，样品中被激发释放出的特征X射线则包含有成分信息，通过相应检测器的捕获以及传输至处理器即可分析得出相应元素类型及含量。
模组工厂内，SEM大量用于对各种异物/粒子的观察、成分分析，结合FT-IR锁定异物来源以改善
| 产品名称 | 检测标准 | 检测项目 |
| 室内空气 | ISO 16000-27-2014 | 对表面纤维落尘的测定 |
u技术参数 ?放大倍数：30X – 3000,000X ?电子枪：钨灯丝 ?分辨率（SE）：4.0 nm 20kV ?束流：1pA – 0.3μA ?加速电压：500V – 30kV ?检测器面积：25mm2 ?可检测元素：Be ~ U ?最大样品尺寸：150mm
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