1、基本原理：

    Rietveld方法的基本原理是逐点比较衍射强度的计算值与观测值，通过最小二乘法，调节实验参数、峰形参数以及结构参数，使计算峰形与实验峰形最大限度地吻合。具体来说，就是将理论计算所得的强度数据以一定的峰形参数与实验强度拟合，在拟合过程中需要不断调整峰形函数和结构参数的值，以使计算强度一步一步地向实验强度值靠近，拟合采用最小二乘法，拟合直到两者的差值最小。

2、测定方法：

    2.1样品的预处理：对样品进行研磨、过筛或抛光处理，可根据具体的检测参数选择不同的样品加工程序。

    2.2样品与标准样品的配比混合：对于含有非晶态的粉末样品，定量分析过程中添加固定含量的内标物可对结晶相进行准确定量；对于检测矿物的晶胞参数、晶粒大小，该标准样品可作为内标或外标校正的参照相，对仪器仪器误差、制样过程误差等进行校正；同时，该标准样品也可以作为一种质量控制的手段，对检测结果进行准确性验证。

    2.3试样的填装：通常使用凹槽试样板，将试样均匀填入凹槽中，试样面比试样板面略高，用一块载玻片压紧试样，应使试样面与试样板面在一个平面上，试样很少时，使用单晶或多孔材料制的无孔无背底试样板，将试样与既不会使之溶解又不会与之发生反应的易挥发溶剂混合，将此混合液滴在试样板面上，使其铺展开，溶剂挥发后，在试样板正面得到一薄层试样，供测定用。

    2.4选择合适的条件，进行步进或连续扫描，获得衍射图谱。

3、数据处理

    建立结构模型、计算理论强度；与实验谱图进行比较、调整参数以及再计算，优化的结构参数主要有两大类：结构参数和非结构参数。结构参数包括：晶胞参数、晶胞中每个原子的坐标、湿度因子、位置占有率、标度因子、试样衍射峰的半高宽、总的湿度因子、择尤取向、晶粒大小和微观应力、消光、微吸收。非结构参数包括：零点、仪器参数、衍射峰的非对称性、背景、样品位移、样品透明性、样品吸收。一般先优化非结构参数，然后才优化结构参数。通过最终的精修结果，即可获得样品的物相组成、物相相对含量、晶胞参数、晶粒大小和微观应变等参数。