在3C产品、汽车电子、医疗电子等电子产品中，高温高湿通常会导致电子零件失效，其中晶锡生长试验尤其重要。

在电子产品中，高温高湿通常会导致电子零件失效，其中晶锡生长试验尤其重要，本实验室采用国际先进的扫描电子显微镜，对零件进行微观放大，检查电器间锡须生长情况，配合高温高湿试验，建立完整的改善措施，避免晶锡生长导致产品失效。

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