近日，东丽分析（TRCS）引进了最新的显微FT-IR（HYPERION 3000：Bruker制造）。 新设备配备了二维阵列（FPA：焦平面阵列）检测器，该检测器是红外光谱学领域的最新技术之一，可实现FT-IR光谱成像。可以分析以前难以分析的微小异物。今后我们将以该技术为您提供更优质的服务。

FT-IR

性能参数：

用途：

具有显微ATR（分辨率2～3μｍ）——能分析微小部位的组成分布情况
大件模块与显微模块并用（ATR/透過）——对于10μｍ以下取样困难的微小异物特别优异