登录
东丽分析技术开发（上海）有限公司
已认证
仪器设备
XPS
  • 产品型号：K-Alpha+
  • 产品名称：XPS
  • 备注说明：性能参数： 表面分析深度 约10nm 特殊配置 ・GCIB刻蚀 ・旋转刻蚀 ・惰性分析对应 用途： 可对样品表面（～10nm程度）元素定性定量分析，还可以对元素的价态等化学状态分析；刻蚀技术可对无机/有机材料进行深度方向的元素/界面分析。
进入机构
客服
留言咨询