泰琛测试技术（上海）有限公司位于上海市闵行区元江路3599号2号楼。

我们采用德国进口的yxlon设备对半导体产品进行全面的工业CT扫描检测，3D重建，缺陷检测，失效分析。

以二维或三维图像的形式清晰、准确、直观地显示被测物体的内部结构、成分、材料和缺陷，并且不会损害被测物体。

检测出的缺陷可根据数量大小进行颜色编码，并可计算出位置、密度、尺寸、形状、坐标等各缺陷的参数，便于分析。

我们专注于为客户提供无损检测、显微分析、材料分析、可靠性测试及失效分析等专业技术服务以及认证、培训、咨询及设备代理一站式服务。