环境气候测试考核产品在各种环境条件下的适应能力，是评价产品可靠性的重要试验方法之一。通过环境试验可以分析和验证各种环境因素对产品效能的影响程度及作用机理，并广泛应用于汽车、通讯、电子电器等产品类别。

试验介绍

        高压蒸煮试验（HAST）是一种加速性能衰退测试方法，主要用于评估电子元器件的耐环境压力水平。将测试样品放置在75°C~130°C的高温、高湿度环境中，并施加高压（2-3atm）条件下测试样品的耐受能力。测试通常持续48-96小时，这种测试方法模拟了一些恶劣的环境条件，用来评估电子元器件的耐久性和可靠性。

        武汉致一检测是专业检测机构，为广大客户提供高压蒸煮试验（HAST）等一系列试验。

试验目的

        高压蒸煮（HAST）测试的目的是通过高温、高湿度和高压的环境条件，来模拟电子元器件在恶劣条件下的使用环境，加速电子元器件的老化和性能衰退，以评估其在实际使用和运输过程中的稳定性和耐久性。通过HAST测试，能够发现一些潜在的缺陷和故障，预测元器件的修理周期和工作寿命，并提高产品的可靠性和稳定性。该测试方法可广泛应用于半导体电子元器件、可靠性电源、耦合器、连接器、继电器、开关等电子元器件的生产和开发过程中。

试验设备

试验优点

①可以模拟电子元器件在恶劣环境下的使用条件，有效加速元器件的老化和性能衰退，提高测试的效率。

②HAST测试可以发现元器件的潜在缺陷和故障，预测元器件的修理周期和工作寿命。

③通过HAST测试，可以提高产品的可靠性和稳定性，降低产品的故障率和维修成本。

④施加压力可减少氧化，压力可增强水的渗透，从而增加测试的准确性和精度。

⑤HAST测试的设备和工具成本相对较低，测试过程简单、易操作。

综上所述，高压蒸煮（HAST）测试是一种非常有效的电子元器件可靠性测试方法，具有高效、精准、低成本等优点，被广泛应用于电子元器件的生产和开发中。

应用范围

高压蒸煮试验（HAST）可以应用于各种电子元器件的生产、开发和测试中，特别适用于在恶劣工作环境下使用的元器件，如在高温、高湿度、高压力、高海拔、高速振动和高辐射等环境中使用的元器件。以下是HAST测试的应用范围：

半导体电子元器件：主要应用于集成电路（IC）、晶体管等半导体元器件的测试。

电源：适用于各种电源产品测试，如可靠性电源、逆变器、交直流转换器等产品测试。

连接器：适用于各种连接器产品测试，如线缆、插头、插座等产品测试。

继电器：适用于各种继电器产品测试，如电磁继电器、固态继电器等产品测试。

传感器：适用于各种传感器产品测试，如温度传感器、湿度传感器、压力传感器等产品测试。

 试验标准

JEDEC JESD22-A110

MIL-STD-750E Method 1031

IPC/JEDEC J-STD-020C，ASTM D3850

1、具有CNAS和CMA认可资质，拥有15项实用新型专利，检测报告具有公信力；

2、拥有众多先进设备，精度高、故障率低，可持续稳定运行，测量数据准确可靠；

3、在武汉设有2000m2实体实验室，拥有一支专业化的高素质检测团队；

4、科学的实验室信息管理系统，保障每个服务环节的高效运转，检测服务优质高效，价格优惠；

5、提供24小时一站式检测服务，7×24小时，节假日不休。