领域分类:电子电器-半导体元器件-其他
检测项目:破坏性物理分析(DPA),可靠性试验,绝缘电阻测试,环境试验,分析检测,元器件电气特性测试,寿命试验,低温试验,元器件失效分析(FA),元器件筛选试验
元器件的筛选是指专为剔除有缺陷或可能引起早期失效的元器件产品而进行的筛选测试。一般情况下,这种筛选测试在元器件产品生产完成之后(成品),对元器件进行100%的筛选,被筛选出来的早期失效的产品大多为工艺缺陷或工艺操作差错所造成的,所以也称为工艺筛选。
元器件筛选是提高元器件使用可靠性的重要手段,因而也是保证所使用元器件固有可靠性的有效手段,元器件经过筛选可以发现并剔除在制造、工艺、材料方面的缺陷和隐患;其作为整个元器件使用质量控制的重要环节,发挥着重要的作用。
科鉴可靠性可为整机故障、元器件失效、产品成品率低等提供产品设计和工艺改进依据。完善的电学分析、无损分析、显微形貌分析、物理性能分析、失效定位技术、制样技术、ESD/Latch-up分析,环境应力验证试验、元器件筛选试验、环境试验、可靠性试验、寿命试验、元器件失效分析(FA)、破坏性物理分析(DPA)等。精准失效定位和故障验证,明确引起产品失效的责任方,提供改进措施;查明整机故障原因、提高产品成品率和使用可靠性,降低售后维护成本和社会不良反应,并且延伸可靠性增长、元器件可靠性评价、老化及延寿分析服务。
产品名称 | 检测标准 | 检测项目 |
元器件 | GJB 33A 半导体分立器件总规范 | 元器件筛选、检测、分析 |
元器件 | GJB 128B 半导体分立器件试验方法 | 元器件筛选、检测、分析 |
元器件 | GJB 360B 电子及电气元件试验方法 | 元器件筛选、检测、分析 |
元器件 | GJB 548C 电子元器件试验程序 方法 | 元器件筛选、检测、分析 |
元器件 | GJB 597B 半导体集成通用规范 | 元器件筛选、检测、分析 |
元器件 | GB/T 2423 系列标准 | 环境试验 |
电子产品 | GB/T 5170 系列 电工电子产品环境试验设备检验方法 | 环境试验 |
电子产品 | IEC 60068 系列标准 | 霉菌、盐雾、低压、温度变化、冲击、密封性等 |
设备专业,资质齐全(CMA、CNAS等),具备军工级检测试验能力,工程师经验丰富,可以提供一对一服务
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