HAST试验是高加速温湿度应力测试，也称高压蒸煮试验是一种以温湿度为环境参数的高加速电子元器件可靠性测试方法。其目的是通过将测试室中的水蒸气压力增加到高于测试样品内部水蒸气分压的极高水平来评估测试样品的耐湿性。
        HAST测试标准
与高温/高湿测试（85°C/85% RH）相比，HAST 由于湿气驱动的腐蚀和更多的绝缘劣化导致更多的组件接触。 HAST 主要用于塑料密封组件。下表显示了最常见的 HAST 相关测试标准。在电子元件通电的情况下进行的测试通常是不饱和类型。

        HAST试验方法

HAST 控制方法有干湿球温度控制、不饱和控制和润湿饱和控制三种。干湿球温度控制通过干湿球温度传感器直接测量和控制测试室的温度和湿度。润湿饱和控制和不饱和控制用于在100%相对湿度条件下进行测试。测试样品上形成冷凝的机制因控制方法而异。在100%相对湿度条件下使用润湿饱和控制进行测试时，测试箱加热器关闭，仅控制加湿加热器。环境类似于在无空气的环境中煮沸的水。当使用不饱和控制时，打开的测试室加热器会导致轻微的不饱和倾向。