领域分类:失效分析_设计审查_其他
检测项目:失效分析,轮廓,厚度,形貌,微观形貌,限用物质含量,粗糙度,认证
优尔鸿信,总部富士康华南检测中心,专业CT检测机构。
优尔鸿信在深圳、郑州、成都、昆山等设有大型检测基地,配置工业CT检测、电镜分析实验室,拥有新型X-Ray检测设备、场发射电子显微镜、透射电镜、能谱分析仪等微纳米分析设备,面向半导体、尺寸量测、SMT封装、PCB失效分析、焊接空洞气泡缺陷分析、高分子塑料材料内部填充等,提供技术解决方案。
SEM利用阴极所发射的电子束经阳极加速,由磁透镜加速后形成一束直径为几十埃到几千埃的电子束流,
这束高能电子束轰击到样品表面会激发多种信息,经过分别收集,放大就能从显示屏上得到各种相应的图像。
EDS入射电子束可停留在被观察区域上的任何位置.X射线在直径1微米的体积内产生,可对试样表面元素的分布进行质和量的分析,高能电子束轰击样品表面,激发各种信号。
SEM+EDS可以对陶瓷、金属、粉末、塑料等样品进行形貌观察及成分分析:
场发射扫描电子显微镜 Field Emission scanning elctron microscope 主要参数:
Resolution:1.0nm,15KV
Magnification: 25X-650000X
Max specimen: 200mm
Stage: 80mm*40mm
Image: Secondary,Back scatter
Analysis: EDS
SEM主要利用背散射电子(BEI)和二次电子(SEI)来成像。
EDS通过特征X-RAY获取样品表面的成分信息。
产品名称 | 检测标准 | 检测项目 |
扫描电镜分析, | GB/T 20307-2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则 | SEM+EDS,能谱分析 |
优尔鸿信,工业互联产品领域第三方检测开拓者。
优尔鸿信,总部富士康华南检测中心,国家CMA资质,CNAS认可,PTP能力验证提供者。
优尔鸿信,深耕工业互联产品领域质量检测有26余年,覆盖电子产品、元器件半导体、材料、化工、新能源汽车零部件等,为产品研发、试产、量产、上市、客诉等环节,提供基于生命周期的检测技术服务。
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