领域分类：失效分析_设计审查_其他
检测项目：光学分析
设备简介：
近场光学测试设备SIG-400可从多角度拍摄光源影像，建立一个光源亮度和色度输出的三维空间图像。在LED测量方面，近场光学测试设备SIG-400支持纵向和横向测试，适应几乎所有常见的光源，可采集和整理LED光源或相似的小面积光源的多角度亮度及色度值，精准的刻划出实际的光效率。汇总并进一步做光效率的分析和光学设计中射线的配置。SIG-400 是对LED 光源的优化测量系统，可减少系统的体积及降低成本，并简化测量的工序。SIG-400 在测量整个待测件的时，能够精准的定位到待测件的中心点，经测试后误差不超过15 微米。
应用范围：
芯片产品的发光均匀度分析
芯片产品的来料检测
封装产品的发光均匀度分析
封装产品的失效分析（色差方向）
封装产品的来料检测
光源产品不同角度的光色参数
芯片及封装产品的寿命评估
设备功能及特点：
测量LED或是小面积光源所有角度近场光强度分布
测量LED或是小面积光源近场色度分布
提供光学设计与原型测试的近场模型（适用多款软件）
LED芯片、颗粒及组件的优化测量系统
多样光学结构配置强化视野范围及分辨率
详细参数：
量测功能 | 亮度、光强度、颜色、相关色温、CIEx,y、u',v'、△E | |
控制软件 | 自动位移及影像采集控制 | |
实时影像 | ||
屏幕录像播放 | ||
灰阶与色彩显示 | ||
记录环境影像提供校正 | ||
屏幕光标校正功能 | ||
分析图表 | 亮度横截面图 | |
烛光横截面图 | ||
亮度3D表面绘图 | ||
亮度等量绘图 | ||
光强度角度分布图表 | ||
多影像及图表显示 | ||
分辨率 | 512×512像素 | |
标准视场(mm） | 2,4,7,12,25 and 50 | |
颜色测量 | 符合CIE 1931 的XYZ滤镜 | |
操作空间 | 70cm×127cm | |
极角 | 0 to 360° | |
方位角 | 0 to 180° | |
角度位移量 | 最小 0.1° |
应用实例：
芯片垂直方向发光均匀度测试实例
特定截面光强分布图
| 产品名称 | 检测标准 | 检测项目 |
| 近场光学测试设备(SIG-400) | 标准 | 近场光学测试设备(SIG-400) |
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