广东金鉴检测科技有限公司
已认证
InGaAs/Obirch
资质:
适用范围:

领域分类:电子电器_电子电气_其他

检测项目:InGaAs/Obirch,材料分析

详情介绍:
服务背景

设备型号:微光显微镜PHEMOS (1000)

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检测内容

HEMOS-1000是一款标准型高分辨率微光显微镜,其包含了一个红外共焦激光显微镜。PHEMOS-1000可根据设备环境和设备装置来灵活改变包括插座板到300mm双面晶片探针等等的部件。它还可以适配高灵敏度近红外相机和高分辨率纳米透镜等选配件。该显微镜有多种选配,包括红外-光致阻值改变(IR-OBIRCH)分析、与大规模集成电路测试机连接和CAD导航功能等,这些选配有助于该显微镜处理多种测量需要。(黑盒照明灯含水银,请根据当地法规处理。)


特性

可选配适用于高分辨率、高灵敏度观测的纳米透镜

红外共焦激光显微镜

红外-光致阻值改变(IR-OBIRCH)分析功能(选配)

低电压样品用高灵敏度近红外相机(选配)

数字lock-in组件加强红外-光致阻值改变的检测能力(选配)

可安装300mm双面半自动探针


显示功能

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PHEMOS-1000将发光图像叠加到高分辨率模板图像上来快速定位缺陷点。对比度增强功能可使图像更清晰,细节更多。


显示功能

注释
图像的任何位置都可以显示评论、箭头等注释符号。

比例显示
可使用分段,在图像上显示比例宽度。

栅格显示
图像上可现实水平和垂直栅格。

缩略图显示
图像可以以缩略图的形式存储和调用,stage坐标等图像信息也可显示。

分屏显示
模板图像、发光图像、叠加图像以及参考图像可一次显示在4个窗口的屏幕上。


参数

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1:根据需求选购。 

2:PHEMOS主单元重量包含一个探针或等效重量。

检测标准
产品名称 检测标准 检测项目
InGaAs/Obirch 标准 InGaAs/Obirch
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