扫描电子显微镜（SEM），配备了能量离散光谱测定系统（EDS），可用于材料科学领域的微观结构成分分析。能够深度分析导电材料和绝缘材料表面真实的情况，例如金属、铝、宝石、玻璃、电路板、塑胶、皮革、纺织品等。材料厚度的精确分析，纤维直径，塑料或者涂料厚度，可见化合物的尺寸都可以观测到。 这对材料研究很重要，同时对研究员来说，能很容易的观测到他们感兴趣的产品的特征及成分。此外，制造商们也想获得更多的关于材料的成分和微观特征，在此先进技术的帮助下，可以在这方面对材料进行深层次的分析。 STC拥有先进的技术，可提供快速的材料分析服务。