飞秒测试中心提供百台精密分析仪器的测试分析工作

简介

型号：布鲁克SMARTAPEXⅡ

可以精确测定无机材料等小分子单晶颗粒物质的晶体结构特征，如结晶物质的三维空间结构（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度等），分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构。系统配置包括高灵敏度CCD探测器、高稳定性X射线发生器、长寿命X光管、测角仪、计算机控制系统以及控制、数据收集和分析处理软件等。本仪器可用在材料、物理、化学、化工等学科。

参数

X射线发生器：Mo靶，高频技术，600W

管电压：20kV～50kV；管电流：2mA～15mA

稳定性： ±0.01%

敏感度：21电子/像素/光子（Mo-Kα）

暗电流：0.1 电子/像

素/秒

探测器：CCD 7. 探测面积：≥Φ75mm

像素尺寸：73.2μm/146.4μm

保密承诺：我司郑重申明，未经客户书面许可，对客户背景信息及合作服务内容予以保密。 

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