扫描电镜及X射线荧光光谱测试

扫描电镜业务 
        中广测设立扫描电镜实验室，配备HITACHI S-3700N扫描电子显微镜和HORIBA EMAX能谱仪。扫描电镜X射线能谱是各类材料超微观结构分析和微区化学成分定性、定量分析的常用分析仪器，可以对固体物质的微区形貌和成分特征同时进行直观、精确、快速、无损的分析。广泛应用于地质、冶金、化工、陶瓷、金属、新型材料、生物、刑侦等领域，业务范围包括：金属、陶瓷、矿物、半导体、塑料、玻璃等样品的微观形貌观察；材料断口、表面形貌、变形层等的观察和成像；金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定；晶体结构的观察与分析；材料微区化学成分的定性、定量分析，元素在材料表面的分布(点、线、面)分析；薄膜材料分析等。同时还可以为高等院校师生提供上机实践。
主要技术指标：
       ⑴分辨率：3nm（SE  30kV）10mm（BSE 30kV）
       ⑵放大倍率：5～300000倍
       ⑶加速电压：0.3～30kV（可连续扫描）
       ⑷最大可载样品直径：300mm
       ⑸最大观察区域直径：200mm
       (6)元素检测范围：4Be～92U

X射线荧光光谱测试业务

      中广测设立X射线荧光光谱实验室，配备有Rigaku RIX-2000型扫描式波长色散全自动X射线荧光光谱仪。X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高等特点，具体如下：

(1) 分析的元素范围广，从9F到92U均可测定；
(2) 荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便；
(3) 检测含量范围较宽，从常量到微量都可检测。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差；
(4) 分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化。
X射线荧光光谱仪可进行块状、粉末、薄膜等样品的定性半定量分析，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、地质、玻璃等行业样品。