日立SEM应用于金属材料的研发和质控-日立科学仪器（北京）有限公司-仪器信息网3i讲堂

日立SEM应用于金属材料的研发和质控

扫描电子显微镜（SEM）具备跨尺度微观观测能力, 贯穿金属材料研发与生产全流程的微观品质管控, 可覆盖从原子级晶格缺陷到毫米级宏观组织的多维度检测需求，能够完成组织形貌解析、失效缺陷排查、夹杂物定量分析、镀层参数测量、晶体结构表征等多项核心检测，适配多品类金属材料的质控场景，为高品质金属材料的性能升级与量产管控提供可靠的技术支撑。